雷擊浪涌抗擾度試驗(yàn)，是模擬自然界里的雷擊（間接雷）以及供電線路中因大型開關(guān)切換所引起的電壓變化對供電線路和通信線路的影響。浪涌試驗(yàn)規(guī)定了兩種波形（1.2/50μs和通信波10/700μs）、幅值為        0.5kV到4kV，能量特別大，對EUT的影響可能是破壞性的。10/700μs（俗稱通信波）適用于長距離對稱通信端口，1.2/50μs適用于電源線端口和其他信號線端口。

執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):IEC 61000-4-5 GB/T 17626.5

1.1浪涌的起因：

電力系統(tǒng)的開關(guān)瞬態(tài)：

a）主要的電力系統(tǒng)切換騷擾，例如電容器組的切換；

b ) 配電系統(tǒng)中較小的局部開關(guān)動(dòng)作或負(fù)載變化；

c) 與開關(guān)器件（如晶閘管）相關(guān)聯(lián)的諧振現(xiàn)象；

d) 各種系統(tǒng)故障，例如設(shè)備組合對接地系統(tǒng)的短路和電弧故障。

雷電瞬態(tài)：

a）直接雷，它擊于外部（戶外）電路，注入的大電流流過接地電阻或外部電路阻抗而產(chǎn)生電壓；

b ) 間接雷（即云層之間或云層中的雷擊或擊于附近物體的雷擊產(chǎn)生的電磁場），它在建筑物內(nèi)、外導(dǎo)體上產(chǎn)生的感應(yīng)電壓和電流；

c) 附近直接對地放電的雷電電流，當(dāng)它耦合到設(shè)備組合接地系統(tǒng)的公共接地路徑時(shí)產(chǎn)生感應(yīng)電壓。

當(dāng)雷電保護(hù)裝置動(dòng)作時(shí)，電壓和電流可能發(fā)生迅速變化，并可能耦合到內(nèi)部電路。

1.2 雷擊浪涌浪涌抗擾度試驗(yàn)?zāi)康模?/strong>

浪涌抗擾度試驗(yàn)?zāi)康氖墙⒁粋€(gè)共同的基準(zhǔn)，以評價(jià)電氣和電子設(shè)備在遭受浪涌（沖擊）時(shí)的性能。

1.3 雷擊浪涌抗擾度試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) ：

浪涌（沖擊）抗擾度試驗(yàn)所采用的國家標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T17626.5-2008《電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 浪涌(沖擊)抗擾度試驗(yàn)》它等同于國際標(biāo)準(zhǔn)：IEC61000-4-5:2005

標(biāo)準(zhǔn)中描述了兩種不同的波形發(fā)生器，一種是（電壓波形：1.2/50us，電流波形：8/20us）組合波發(fā)生器，另一種是符合國際電信聯(lián)盟委員會(huì)的要求（電壓波形：10/700us，電流波形：5/320us）組合波發(fā)生器。

1.4 雷擊浪涌抗擾度試驗(yàn)等級：

標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：標(biāo)準(zhǔn)等級線與地（共模）的電壓是線與線（差模）的電壓2倍。

1.5 耦合/去耦網(wǎng)絡(luò)的選擇方法

• 耦合網(wǎng)絡(luò)的作用是將組合波發(fā)生器的浪涌信號傳送到EUT上，限制從電源線流入組合波發(fā)生器的電流對發(fā)生器本體造成破壞，減小對浪涌波形的影響。

• 去耦網(wǎng)絡(luò)的作用是為浪涌波提供足夠的去耦阻抗，避免浪涌竄入電網(wǎng)對由同一電源供電的非受試設(shè)備產(chǎn)生不利影響。

• 此外,連接到同一電源的其他設(shè)備可能含有防雷器件,在不使用去耦網(wǎng)絡(luò)的情況下，非受試設(shè)備上防雷器件會(huì)阻止EUT上浪涌的施加及影響浪涌試驗(yàn)結(jié)果。

1.6 試驗(yàn)配置：

EUT和耦合/去耦網(wǎng)絡(luò)之間的電源線長度不應(yīng)超過2m.

除非相關(guān)產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，施加在直流電源端和互聯(lián)線上的浪涌脈沖次數(shù)應(yīng)為正、負(fù)極性各5次；對交流電流端口，應(yīng)分別在0°、90°、180°、270°相位施加正、負(fù)極性各5次的浪涌脈沖，連續(xù)脈沖間的時(shí)間間隔1分鐘或更短。

如果重復(fù)率1/min更快的試驗(yàn)使EUT發(fā)生故障，而按1/min重復(fù)率進(jìn)行測試時(shí)，EUT卻正常工作，則使用1/min的重復(fù)率進(jìn)行測試。

實(shí)驗(yàn)室的氣候條件應(yīng)該在EUT和試驗(yàn)儀器各自的制造商規(guī)定的設(shè)備正常工作范圍內(nèi)，如果相對濕度很高，以至于在EUT和試驗(yàn)儀器上產(chǎn)生凝霧，則不應(yīng)進(jìn)行試驗(yàn)。